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第1题
关于套管试验说法正确的有（)。
A.应测量绝缘电阻
B.20kV及以上非纯瓷套管应测量介质损耗因数(tanδ)和电容值
C.末屏需检查接地是否良好，对绝缘有怀疑时需进行绝缘电阻测试
D.应进行交流耐压试验
第2题
关于光纤连接损耗，以下那一种说法是错误的（）。
A.光纤间的连接损耗与光的传输方向无关
B.对于单模光纤，模场半径的不匹配是光纤损耗主要因素
C.通过充以折射率匹配液，可大大降低光纤端面间菲涅尔反射损耗
D.多模光纤的连接损耗可用几何光学进行分析计算
第5题
智力是一种极其复杂的、多样的现象，不可能做定量的线性测量，并不存在一种可以比较正常人的智力高
低的方法。所谓智商测试，测量的不过是数学、推理、语汇方面的学习能力。智商测试在学校教育中有其应用价值，但不宜夸大其作用，更不能产生它是在测量智力：的误解。
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对这段话的意思理解不正确的是()。
A．正常人的智力高低难以测量
B．智商的高低并非真正反映智力的高低
C．智商测试只可应用于学校教育中
D．智商测试主要测量的是某些学习能力
第6题
下列有线传输介质的损耗特性优劣排列顺序依次为：
A.光纤>粗同轴电缆>细同轴电缆>双绞线
B.光纤>双绞线>粗同轴电缆>>细同轴电缆
C.细同轴电缆>双绞线>粗同轴电缆>光纤
D.光纤>细同轴电缆>粗同轴电缆>双绞线
第8题
下面操作正确的有
A.清洁尾纤端面时，需使用无水酒精，严禁使用水
B.更换光板时，应先拔光纤，再拔光板，不要带纤拔板
C.OTDR时域反射仪的发光非常强烈，必须先将光板和光缆的连接断开，再使用OTDR进行测试
D.为了判断OTU板是否出现故障，最简单的方法就是硬件环回，拿一个尾纤将OTU板的收发直接相连即可
第9题
关于电子信息技术，以下说法正确的是（)。A.光计算可以抗电磁干扰B.量子计算机于2010年面世C.光纤
关于电子信息技术，以下说法正确的是()。
A.光计算可以抗电磁干扰
B.量子计算机于2010年面世
C.光纤通信的传输过程没有任何损耗
D.DNA计算是人类基因组计划的一部分
第10题
强度为I0的光射入一段20m的光纤，光纤出射端的光强度的测量值为I1将光纤截为10m长，用相同强度I0的
光再射人光纤，其输出的光强度的测量值为T2已知I2／I1=exp[2]，则光纤对光的衰减系数
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为多大？
