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[多选题]

关于“载流子的迁移率”,以下说法正确的是:()。

A.迁移率是单位电场强度下载流子的平均漂移速度的绝对值

B.迁移率反应载流子在电场中漂移运动的难易程度

C.电子的迁移率为正

D.电子的迁移率大于空穴的迁移率

E.电子的迁移率为负,空穴的迁移率为正

F.电子的迁移率小于空穴的迁移率G、电子的迁移率等于空穴的迁移率

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第1题
下列不属于提高MOS管特征频率方法的是()。

A.采用应力工程,提高载流子迁移率

B.提高跨导

C.增加沟道长度

D.减小栅围寄生电容

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第2题
关于强电离区,以下说法正确的是:()。

A.载流子浓度不随温度变化

B.大部分杂质都已电离

C.本征激发的影响可以忽略

D.载流子浓度随温度升高按指数规律变化

E.费米能级不随温度变化

F.本征激发的影响不可忽略

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第3题
根据晶体管的工作原理,要求材料有较大的()和()。

A.位错密度

B.电阻率

C.禁带宽度

D.载流子迁移率

E.非平衡载流子寿命

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第4题
关于“载流子浓度随温度的变化”,以下说法正确的是:()。

A.低温区,载流子浓度随温度按指数规律变化

B.强电离区,载流子浓度不随温度变化

C.本征激发区,载流子浓度随温度按指数规律变化

D.强电离区,载流子浓度随温度按指数规律变化

E.本征激发区,载流子浓度不随温度变化

F.低温区,载流子浓度不随温度变化

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第5题
假定某种高聚物的电导率为10-9Ω-1·m-1,载流子迁移率借用室温下烃类液体中离子载流子的数值10-9m2/(V·s),计

假定某种高聚物的电导率为10-9Ω-1·m-1,载流子迁移率借用室温下烃类液体中离子载流子的数值10-9m2/(V·s),计算高聚物的载流子浓度,并估算高聚物中重复单元的数量密度(假定重复单元相对分子质量为100,高聚物的相对密度为1),比较所得结果并加以讨论。

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第6题
关于半导体的热导率,以下说法正确的是?()

A.半导体中热传导绝大部分是声子的贡献

B.声子对热传导率的贡献实质上就是格波之间的散射过程的贡献

C.半导体的热导率与电导率之间存在某种联系

D.通过双极扩散的机构,电子和空穴共同将能量从高温端运载到低温端

E.半导体的热导率是由载流子的运动和声子的运动两种机构决定的

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第7题
关于光生伏特效应,以下说法正确的是?()
A、用适当波长的光照射没有外加偏压的非均匀半导体(如pn结)或其它半导体结构时,由于光激发和半导体内建电场的作用,使半导体内部产生电动势

B、光生伏特效应最重要的应用之一是太阳能电池

C、是光能转换成电能

D、能够产生有效的光生伏特效应,需要:光照能够产生大量的光生载流子;并能够把产生的光生电子和光生空穴有效分离

E、是电能转换成光能

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第8题
现有一块掺杂浓度ND=1016cm2的n-Ge的样品,其厚度d>>Lp,在样品上表面用波长λ=0.75μm,其强度p=4.4×10-3W/cm2

现有一块掺杂浓度ND=1016cm2的n-Ge的样品,其厚度d>>Lp,在样品上表面用波长λ=0.75μm,其强度p=4.4×10-3W/cm2的红光垂直照射,除反射之外,其余全部在表面薄层△d=0.1μm的厚度之内被均匀吸收,产生非平衡载流子△p=△n为小注入。设其量子产额β=1,表面对这种光的反射系数R=40%,光生载流子的寿命τ=1.82×10-3s,电子迁移率μn=2800cm2/(V·s),空穴迁移率μp=700cm2/(V·s),普朗克常数h=6.6×10-34J·s,光速C=3×1010cm/s(如图所示)。

试求:室温(300K)下样品光照面和底面之间的开路电压Vx

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第9题
风险迁徙类指标用来衡量商业银行风险变化的程度,表示为资产质量从前期到本期变化的比率。下列关于
风险迁徙类指标说法不正确的是()。

A.贷款质量的变化是风险迁徙类指标关注的内容

B.正常贷款和关注类贷款的向下调整都是该指标关注的内容

C.不良贷款的迁徙率包括次级类和可疑类贷款迁移率

D.风险迁徙类指标是静态的

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第10题
关于N型半导体的下列说法,正确的是()。

A.只存在一种载流子:自由电子

B.在二极管中,N型半导体一侧接出引线后,是二极管的正极

C.在纯净的硅衬底上,分散三价元素,可形成N型半导体

D.在PNP型的晶体管中,基区正是由N型半导体构成

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第11题
关于N型半导体的下列说法,错误的是()。

A.自由电子是多数载流子

B.在二极管中由N型半导体引出的线是二极管的阴极

C.在纯净的硅晶体中加入三价元素硼,可形成N型半导体

D.在PNP型晶体管中,基区是N型半导体

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